GB/T 45718-2025

半导体器件 内部金属层间的时间相关介电击穿(TDDB)试验

现行 推荐 国标

直接答案

GB/T 45718-2025 是什么标准?现在还有效吗?

GB/T 45718-2025「半导体器件 内部金属层间的时间相关介电击穿(TDDB)试验」是国标(推荐性)。由国家市场监督管理总局发布。2025-05-30 发布、2025-09-01 实施。当前状态:现行。归类:电子与信息技术 · 半导体分立器件 · 半导体器件综合。

级别
国标
强制性
推荐性
当前状态
现行
发布部门
国家市场监督管理总局
实施日期
2025-09-01
官方来源
国家标准全文公开系统 · 官方页

官方来源

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基本信息

级别
国标
性质
推荐性
标准类别
方法
采用国际标准
是
发布部门
国家市场监督管理总局
发布日期
2025-05-30
实施日期
2025-09-01
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门
工业和信息化部
执行单位
全国半导体器件标准化技术委员会
标准代号
GB/T
分类号
CCS L40(半导体分立器件) · ICS 31.080.01(半导体器件综合) · 行业领域:电子与信息技术

国家标准由国务院标准化行政主管部门国家市场监督管理总局批准发布。 这条标准的主管部门:工业和信息化部。

适用范围

库内未收录该标准的适用范围原文。现有分类信息:CCS L40(半导体分立器件) · ICS 31.080.01(半导体器件综合) · 行业领域:电子与信息技术。完整内容以上方官方页面为准。

采用国际标准情况

本标准等同采用IEC国际标准:IEC 62374-1:2010。 采标中文名称:半导体器件 第1部分: 内部金属层间的时间相关介电击穿(TDDB)试验。

采用关系按官方题录原文列出。引用时请同时核对采用方式(等同、修改或非等效)及对应国际标准的版本。

常见问题

GB/T 45718-2025 是强制性的吗?

GB/T 45718-2025 在官方题录中的性质为推荐性标准。引用文件中的要求以该引用文件本身为准。

GB/T 45718-2025 现在还有效吗?

有效。截止本站最后一次核对(2026-10-25),GB/T 45718-2025 的状态是「现行」。

GB/T 45718-2025 是哪个部门发布的?

GB/T 45718-2025 的发布单位是国家市场监督管理总局。打样、检测、招标有疑问时,可直接向发布单位的官方渠道核实。

GB/T 45718-2025 的官方原文在哪里看?

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版本沿革

同族共 1 个版本:GB/T 45718-2025 现行

比它旧:—

比它新:—

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下一步

标准号、日期来自官方题录库;最终以官方标准原文为准。

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